A сканирующий электронный микроскоп(SEM) — это тип электронного микроскопа, используемый для сканирования микробных поверхностей, в котором для фокусировки и сканирования образца используется движущийся электронный луч низкой энергии.
Развитие электронной микроскопии было связано с неэффективностью длин волн оптической микроскопии. По сравнению со световыми микроскопами электронные микроскопы имеют короткую вертикальную длину волны и, следовательно, обеспечивают лучшее разрешение.
Принципы сканирующей электронной микроскопии
В отличие от просвечивающей электронной микроскопии, в которой используются прошедшие электроны, в сканирующей электронной микроскопии используются испускаемые электроны.
Сканирующая электронная микроскопия работает, применяя кинетическую энергию для получения сигналов о взаимодействии электронов. Эти электроны представляют собой вторичные электроны, обратно рассеянные электроны и дифрагированные обратно рассеянные электроны, которые используются для наблюдения кристаллических элементов и фотонов. Для создания изображения используются вторичные электроны и обратно рассеянные электроны. Вторичные электроны, эмитированные из образца, играют важную роль в определении морфологии и топографии образца, в то время как обратно рассеянные электроны демонстрируют контраст в элементном составе образца.
